Rentgen SEC X-EYE 5100F

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SEC X-Eye 5100F ist ein fortschrittliches Röntgensystem für nicht-invasive Analysen und Diagnostik. Es verfügt über eine Mikrofokus-Lampe, CMOS-Detektor, mehrachsigen Manipulator sowie Software mit Messfunktionen und automatischem Lernen. Angepasst an verschiedene industrielle Anwendungen, gewährleistet es Sicherheit und Benutzerfreundlichkeit.

Warum sollten Sie sich für dieses Gerät entscheiden?

Zerstörungsfreie Untersuchungen: Ideal für SMT-Halbleiter und elektronische Komponenten.

Automatisierung der Qualitätskontrolle.

Hochwertige Bildgebung: Hervorragende Klarheit bei hoher Vergrößerung.

Flexibilität und fortschrittliche Bedienfunktionen.

Beispielbilder

Spezifikationen

Hochleistungs-Röntgensystem für zerstörungsfreie Analysen und Diagnostik.
Geschlossene Mikrofokus-Lampe 100kV und CMOS-Detektor für klare Bilder bei hoher Vergrößerung.
Mehrachsige Steuerung: Ermöglicht einfache Untersuchungen von Objekten in verschiedenen Vergrößerungen.
Automatisches Lernen: Trägt zur Effizienz als halbautomatisches Qualitätssicherungssystem bei.
Intuitive Software: Beinhaltet Messwerkzeuge und eine Kommentarfunktion.
Mikrofokus-Lampe 100~130kV und Flachdetektor für optimale Bildgebung.
100kV maximale Spannung, 200uA Stromstärke, Fokuspunkt 5um.
Röntgendetektor: Flacher CMOS, maximale Vergrößerung 130X.
4-Achsen-Manipulator: Steuerung über Desktop oder Maus, Tischgröße 340×460 mm.
Werkzeuge zur Bestimmung des „Voiding“-Levels.“

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